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Oxidation Mechanism of As(III) in the UV/Ti0<sub>2</sub> System: Evidence for a Direct Hole Oxidation Mechanism

Autores: Sung-hwan Yoon, Jai H. Lee
Localización: Environmental science & technology, ISSN 0013-936X, Nº. 24, 2005, págs. 9695-9701
Idioma: inglés
DOI: 10.1021/es051148r
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