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Oxidation Mechanism of As(III) in the UV/Ti0<sub>2</sub> System: Evidence for a Direct Hole Oxidation Mechanism
Autores:
Sung-hwan Yoon, Jai H. Lee
Localización:
Environmental science & technology
,
ISSN
0013-936X,
Nº. 24, 2005
,
págs.
9695-9701
Idioma:
inglés
DOI
:
10.1021/es051148r
Texto completo no disponible
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